- Деталі
- Перегляди: 6846
Y. Gomeniuk, A. Nazarov, Ya. Vovk, Yi Lu, O. Buiu, S. Hall, J.K. Efavi, M.C. Lemme, Materials Science in Semiconductor Processing, vol. 9, pp. 980–984 (2006)
- Деталі
- Перегляди: 6972
T. Rudenko, V. Kilchytska, M. K. Md Arshad, J.-P. Raskin, A. Nazarov, and D. Flandre, IEEE Transactions on Electron Device, V.58, N 12, P. 4172-4179, (2011)
- Деталі
- Перегляди: 7351
Y.Y. Gomeniuk, Y.V. Gomeniuk, A.N. Nazarov, P. K. Hurley,bK. Cherkaoui, S. Monaghan, P.-E. Hellström, H.D.B. Gottlob, J. Schubert, J.M.J. Lopes, Advanced Materials Research Vol. 276, pp 87-93 (2011)
- Деталі
- Перегляди: 7072
Y.V. Gomeniuk, S.O. Gordienko , A.N. Nazarov, A.V. Vasin, A.V. Rusavsky, V.G. Stepanov, V.S. Lysenko, D. Ballutaud, S. Ashok, Journal of Non-Crystalline Solids vol.358, pp.168–173 (2012)
- Деталі
- Перегляди: 7240
Gomeniuk Y.V., Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, vol.15, №2, p. 139-146. (2012)
- Деталі
- Перегляди: 6864
I.P. Tyagulskii, S.I. Tyagulskii, A.N. Nazarov, V.S. Lysenko, K. Cherkaoui, P.K. Hurley, Microelectronic Engineering vol.109, pp.31–34 (2013)
- Деталі
- Перегляди: 6802
Lysenko V.S., Kondratenko S.V., Kozyrev Y.N., Kladko V.P., Gomeniuk Y.V., Melnichuk Y.Y., and Blanchard N.B. Sci. Semicond and Technology, vol.28, p.085009-1 - 085009-9. (2013)
- Деталі
- Перегляди: 6787
V. A. Ievtukh, A. N. Nazarov, V. I. Turchanikov and V. S. Lysenko, Vol. 718-720, Advanced Materials Research pp 1118-1123 (2013)
- Деталі
- Перегляди: 7006
T. Rudenko, A. Nazarov, R. Yu, S. Barraud, K. Cherkaoui, P. Razavi, G. Fagas, vol.109, Microelectronic Engineering pp.326–329 (2013)
- Деталі
- Перегляди: 6531
S. Muto, A. V. Vasin, Y. Ishikawa, N. Shibata, J. Salonen and V-P. Lehto, Materials Science Forum, Vols. 561-565 pp. 1127-1130. (2007)
- Деталі
- Перегляди: 6546
A. Vasin, Y. Ishikawa, N. Shibata, J. Salonen, V-P. Lehto, Materials Science Forum, Vols. 556-557, pp. 167-170, (2007)
- Деталі
- Перегляди: 6592
Andriy V. Vasin, Yukari Ishikawa, Norioshi Shibata, Jarno Salonen, and Vesa-Pekka Lehto, Japanese Journal of Applied Physics, Vol. 46, No.19, pp. L465-L467, (2007)
- Деталі
- Перегляди: 7139
T. Rudenko, V. Kilchytska, N. Collaert, M. Jurczak, A. Nazarov, V. Lysenko, D. Flandre, Sensor Electronics and Microsystem Technologies №-3 pp.13-18. (2007)
- Деталі
- Перегляди: 6995
T. Rudenko, V. Kilchytska, N. Collaert, M. Jurczak, A. Nazarov, and D. Flandre, vol.51, Solid-State Electronics N11-12, pp.1467-1473. (2007)
- Деталі
- Перегляди: 7317
T. Rudenko, V. Kilchytska, N. Collaert, M. Jurczak, A. Nazarov and D. Flandre, IEEE Electron Device Letters, V.28, No 9, P.834-836, (2007)
- Деталі
- Перегляди: 7923
S.Prucnal, J.M.Sun, A. Nazarov, I.P. Tyagulskii, I.N.Osiyuk, W.Skorupa, Applied Physics B: Lasers and Optics. V.88, N 2. - P.241-244, (2007)
- Деталі
- Перегляди: 8885
V. Turchanikov, A. Nazarov, V. Lysenko, E. Tsoi, A. Salonidou, A.G. Nassiopoulou, Physica E, V. 38, P. 89-93, (2007)
- Деталі
- Перегляди: 6960
A.N. Nazarov, V.S. Lysenko, T.M. Nazarova, Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, V. 11, N 2, pp. 101-123 (2008)
- Деталі
- Перегляди: 9098
T. Rudenko, V. Kilchytska, N. Collaert, M. Jurczak, A. Nazarov, and D. Flandre, , IEEE Transactions on Electron Devices, vol. 55, no. 12, Dec. pp. 2567-2577. (2008)
- Деталі
- Перегляди: 6508
S. Prucnal, L. Rebohle, A. Nazarov, I.N.Osiyuk, I.P. Tyagulskii, W. Skorupa, , Applied Physics B: Lasers and Optics. v.91, N1, P.123-126, (2008)
- Деталі
- Перегляди: 6812
A. V. Vasin, S. P. Kolesnik, A. A. Konchits, A. V. Rusavsky, V. S. Lysenko, A. N. Nazarov, Y. Ishikawa, and Y. Koshka, Journal of Applied Physics, v.103, pp. 123710-1 -123710-7, (2008)
Більше статей...
- Color control of white photoluminescence from carbon-incorporated silicon oxide
- Blue and red electroluminescence of Europium-implanted metal-oxide-semiconductor structures as a probe for the dynamics of microstructure
- Anomalous wear-out phenomena of europium-implanted light emitters based on a metal-oxide-semiconductor structure
- Correlation between electroluminescence and charge trapping in multi-color Eu implanted Si-based light-emitting diodes