- Деталі
- Перегляди: 7333
Pradhan S.K., Nouveau C., Vasin A., Djouadi M.-A., Surface and Coating Technology V.200 – No.1-4 – pp.141-145. (2005)
- Деталі
- Перегляди: 9454
T. Rudenko, V. Kilchytska, V. Dessard and D. Flandre, J. Appl. Phys, v 97, May, p. 093718-1-9. (2005)
- Деталі
- Перегляди: 7275
T. Rudenko, N. Collaert, S. De Gendt, V. Kilchytska, M. Jurczak, and D. Flandre, Microelectronic Engineering, vol.80, pp.386-389. (2005)
- Деталі
- Перегляди: 7507
D. Lederer, V.Kilchytska, T. Rudenko, N.Collaert, D. Flandre, A.Dixit, K. De Meyer, J.-P. Raskin, Solid-State Electronics, v. 49, N 9, pp.1488-1496. (2005)
- Деталі
- Перегляди: 7014
T. E. Rudenko, I.N. Osiyuk. I. P. Tyagulski, H. O. Olafsson, E. O. Sveinbjörnsson, Solid-State Electronics, v.49, N4, pp. 545-553. (2005)
- Деталі
- Перегляди: 9102
V. I. Turchanikov, A. N. Nazarov, V. S. Lysenko, J. Carreras and B. Garrido, Journal of Physics: Conference Series, vol. 10, pp.409–412 (2005)
- Деталі
- Перегляди: 9130
V.I. Turchanikov, A.N. Nazarov, V.S. Lysenko, Josep Carreras, B. Garrido, Microelectronics Reliability, vol.45, pp.903–906 (2005)
- Деталі
- Перегляди: 7061
V.I. Turchanikov, A.N. Nazarov, V.S. Lysenko, O. Winkler, B. Spangenberg, H. Kurz, Materials Science and Engineering B V.124-125, P. 517–520 (2005)
- Деталі
- Перегляди: 6815
A.N. Nazarov, J.N. Vovk, I.N. Osiyuk, A.S. Tkachenko, I.P. Tyagulskii, V.S. Lysenko, T. Gebel, L. Rebohle, W. Skorupa, R.A. Yankov, Materials Science and Engineering B V.124-125, P. 458–461 (2005)
- Деталі
- Перегляди: 8551
A. Nazarov, W. Skorupa, I.N. Osiyu., I.P. Tjagulskii, V.S. Lysenko, R.A. Yankov, Journal of The Electrochemical Society, V.152. - N2. - P. F20-F25 (2005)
- Деталі
- Перегляди: 6745
J. Sun, W. Skorupa, T. Dekorsy, M. Helm and A.Nazarov, Optical Materials, V. 27, P.1050-1054, (2005)
- Деталі
- Перегляди: 6772
A. Nazarov, J.M. Sun, I. N. Osiyuk, I. P. Tjagulskуу, V. S. Lysenko, W. Skorupa, R.A. Yankov and T.Gebel, Applied Physical Letters, V.86, P. 151914-1-151914-3 (2005)
- Деталі
- Перегляди: 6855
W.Skorupa, J.M.Sun, S.Pruchnal, L.Rebohle, T. Gebel, A.N.Nazarov, I.N.Osiyuk and M.Helm, Solid State Phenomena, V.108-109, P.755-760, (2005)
- Деталі
- Перегляди: 6853
Alt H.Ch., Gomeniuk Y.V. and Mussler G. Semicond. Sci. and Technology, v.21, No.10, p.1425-1431. (2006)
- Деталі
- Перегляди: 8942
Alt H.Ch., Gomeniuk Y.V., Bittersberger F., Kempf A. and Zemke D. Materials Science in Semiconductor Processing, vol. 9, p. 114-116. (2006)
- Деталі
- Перегляди: 7653
Güngerich M., Klar P.J., Heimbrodt W., Volz K., Köhler K., Wagner J., Polimeni A., Capizzi M., Alt H.Ch. and Gomeniuk Y.V. phys. stat. sol. (c), 3, 619. (2006)
- Деталі
- Перегляди: 8630
A. Nazarov, I. Osiyuk, I. Tyagulskii, V. Lysenko, S. Prucnal, J. Sun, W. Skorupa, R.A. Yankov, Journal of Luminescence, V.121. –P. 213–216, (2006)
- Деталі
- Перегляди: 6745
V. Vasin, S. P. Kolesnik, A. A. Konchits, V. I. Kushnirenko, V. S. Lysenko, A. N. Nazarov, A. V. Rusavsky and S. Ashok, Journal of Applied Physics, V. 99, p. 113520, (2006)
- Деталі
- Перегляди: 6904
Yu. Houk, B. Iniguez, D. Flandre and A. Nazarov// Solid-State Electron., v.50, pp.1261-1268, (2006)
- Деталі
- Перегляди: 6834
I.Z. Indutnyy, V.S. Lysenko, I.Yu. Maidanchuk, V.I. Min’ko, A.N. Nazarov, A.S. Tkachenko, P.E. Shepeliavyi, V.A. Dan’ko, Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, V. 9, N 1, pp. 9-13 (2006)
- Деталі
- Перегляди: 7305
Y. Lu, O. Buiu, I. Z. Mitrovic, S. Hall, P. Chalker, R. Potter, A. Nazarov, V. Lysenko, I. Tyagulskii, I. Osiyuk, Ya.Vovk, ECS Transactions, 1 (5), pp.517-528 (2006)
Більше статей...
- Low-temperature conductance measurements of surface states in HfO2–Si structures with different gate materials
- On the MOSFET threshold voltage extraction by transconductance and transconductance-to-current ratio change methods: Part I - Effect of gate-voltage-dependent mobility
- Electrical properties of high-k LaLuO3 gate oxide for SOI MOSFETs
- Effect of vacuum annealing on charge transport and trapping in a-Si1−xCx:H/c-Si heterostructures