- Деталі
- Перегляди: 6421
A.V. Vasin, L.A. Matveeva, V.A.. Technical Physics Letters 28(7) pp. 592-594, (2002)
- Деталі
- Перегляди: 7015
T.Rudenko, V. Kilchytska, J.-P. Colinge, V. Dessard, D. Flandre,IEEE Electron. Device Lett. vol.23, N3, pp.148-150. (2002)
- Деталі
- Перегляди: 8925
Nazarov A.N., Osiyuk I.N., Lysenko V.S., Gebel T., Rebohle L. and Skorupa W., Microelectronics Reliability, 42, 1461-1464. (2002)
- Деталі
- Перегляди: 9081
Gebel T., Rebohle L., Skorupa W., Nazarov A.N., Osiyuk I.N., and Lysenko V.S, Appl. Phys. Lett., 81, 2575-2576. (2002)
- Деталі
- Перегляди: 6892
Alt H.Ch., Gomeniuk Y.V., Lenk G. and Wiedemann B. Physica B: Condensed Matter, v.340-342, p. 394-398. (2003)
- Деталі
- Перегляди: 7915
Alt H.Ch., Gomeniuk Y., Ebbinhaus G., Ramakrishnan A., Riechert H. Semicond. Sci. and Technology, v.18, p.303-306. (2003)
- Деталі
- Перегляди: 6855
Alt H.Ch., Gomeniuk Y., Wiedemann B., Riemann H. v.150, No.8, p.G498-G501. (2003)
- Деталі
- Перегляди: 6927
Gomeniuk Y.V., Alt H.Ch., Kretzer U. Phys. Stat. Sol. (b), v.240, No.1, p. 139-147. (2003)
- Деталі
- Перегляди: 6625
Alt H.Ch., Gomeniuk Y., Kretzer U.. Phys. Stat. Sol. (b), v.235, No.1, p. 58-62. (2003)
- Деталі
- Перегляди: 9328
Mortet V., Vasin A., Jouan P-Y., Elmazria O., Djouadi M-A.. Surface and Coating Technology V.176, №1, pp.88-92, (2003)
- Деталі
- Перегляди: 5914
Nazarov A.N., Gebel T., Rebohle L., Skorupa W., Osiyuk I.N., and Lysenko V.S., J. Appl. Phys., 94, 4440-4448 (2003)
- Деталі
- Перегляди: 6801
Nazarov A.N., Kilchytska V., Houk Yu., and Ballutaud D., J. Appl. Phys., 94, 1823-1832 (2003)
- Деталі
- Перегляди: 8811
Nazarov A.N., Vovk Ya.N., Lysenko V.S., Kon’kov O., Terukov E. Material Science and Engineering B105, 61-64 (2003)
- Деталі
- Перегляди: 7123
Gebel T., Rebohle L., Sun J., Skorupa W., Nazarov A.N., and Osiyuk I.N, Physica E, 16, 499-504 (2003)
- Деталі
- Перегляди: 7132
Alt H.Ch. and Gomeniuk Y.V. Phys. Rev. B, 2004, v.70, No.16, p. 161314-1–¬161314-4.
- Деталі
- Перегляди: 7110
Alt H.Ch., Gomeniuk Y.V., and Wiedemann B. Phys. Rev. B, v.69, No.12, p. 125214-1–¬125214-6. (2004)
- Деталі
- Перегляди: 7068
Djouadi M.-A., Vasin A.V., Nouveau C., Angleraud B., Tessier P.-Y. Surface and Coatings Technology №180-181, pp.174-177. (2004)
- Деталі
- Перегляди: 6791
T. Rudenko , A. Rudenko, V. Kilchytska, S. Cristoloveanu, T. Ernst , J.-P. Colinge, V. Dessard , D. Flandre, Solid State Electronics, vol.48, No.3, pp. 389-399. (2004)
- Деталі
- Перегляди: 6828
T. Gebel, L. Rebohle, R.A. Yankov, A.N. Nazarov, W. Skorupa, Microwave and Optical technology, edt. by J. Pistora, Proc. of SPIE , Vol. 5445, 284-289 (2004)
- Деталі
- Перегляди: 9301
V.P.Kunets, N.R.Kulish, V.V.Strelchuk, A.N.Nazarov, A.S. Tkachenko, V.S.Lysenko, M.P. Lisitsa, , Physica E, V.22, P.804-807, (2004)
- Деталі
- Перегляди: 6884
Alt H.Ch., Gomeniuk Y.V., Bittersberger F., Kempf A., and Zemke D.. Appl. Phys. Lett., 87, 151909-1–151909-3. (2005)
Більше статей...
- Deposition of CrN coatings by PVD methods for wear resistance application
- A revised reverse gated-diode technique for determining generation parameters in thin-film silicon-on-insulator devices and its application at high temperatures
- Effective mobility in FinFET structures with HfO2 and SiON gate dielectrics and TaN gate electrode
- FinFET analogue characterization from DC to 110 GHz