- Деталі
- Перегляди: 7152
Fedorenko L., Matyash I.E., Kazantseva Z.I., Rudenko S.I., Kolomiychenko Y.V. // Source:Applied Surface Science. – 2014. – V. 290 . - P.1 – 5
- Деталі
- Перегляди: 6395
Sterligov V.A., Grytsaienko I.O., Men Y., Nesterov M.L., Nikitin A.Yu. // Plasmonics. – 2014. - V.9 ( Issue 2 ) - P. 219-226
- Деталі
- Перегляди: 6210
- Деталі
- Перегляди: 6209
- Деталі
- Перегляди: 6288
- Деталі
- Перегляди: 21868
- Деталі
- Перегляди: 21234
- Деталі
- Перегляди: 21929
- Деталі
- Перегляди: 22340
- Деталі
- Перегляди: 7255
- Деталі
- Перегляди: 6731
- Деталі
- Перегляди: 5952
- Деталі
- Перегляди: 5163
- Деталі
- Перегляди: 5338
- Деталі
- Перегляди: 5579
- Деталі
- Перегляди: 5880
- Деталі
- Перегляди: 5299
- Деталі
- Перегляди: 6074
- Деталі
- Перегляди: 5986
- Деталі
- Перегляди: 5469
- Деталі
- Перегляди: 5403
Більше статей...
- Measuring the depth profiles of strain/composition in AlGaN-graded layer by high-resolution x-ray diffraction
- Механизм протекания тока в омическом контакте Au-Ti-Al-Ti-n+-GaN в диапазоне температур 4.2 – 300К
- X-ray diffraction investigation of GaN layers on Si (1 1 1) and Al2O3 (0 0 0 1) substrates
- Optical properties of irradiated epitaxial GaN films