V. Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics of National Academy of Sciences of Ukraine
Search
Nav view search
Navigation
Home
Institute
Research divisions
Projects
Our design
Education
News
Journal
Mail
You are here:
Home
Our design
Publications
dep02
dep-02-before
Вплив типу власних точкових дефектів на інтенсивність дифрагованих рентгенівських променів для квазізаборонених рефлексiв
Devices
Diagnostics
Technology
Services
Details
Hits: 6517
В.П.
Кладько.
//
Український Фізичний Журнал
, Т.
39
, №3, С.330-334
(
1994
)
.