Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України
Пошук
Навігаційний перегляд пошуку
Навігація
Головна
Інститут
Наукові відділи
Проекти
Розробки
Освіта
Новини
Журнал
Пошта
Ви тут:
Головна
Розробки
Publications
dep02
dep-02-before
Вплив типу власних точкових дефектів на інтенсивність дифрагованих рентгенівських променів для квазізаборонених рефлексiв
Прилади
Діагностика
Технологія
Послуги
Деталі
Перегляди: 6261
В.П.
Кладько.
//
Український Фізичний Журнал
, Т.
39
, №3, С.330-334
(
1994
)
.