- Деталі
- Перегляди: 10760
O.I. Liubchenko, V.P. Kladko, Metallofizika i Noveishie Tekhnologii, V.40, Issue 6, P.759–776 (2018). https://doi.org/10.15407/mfint.40.06.0759
 |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України
|
Пошук
Навігаційний перегляд пошуку
Навігація
Ви тут: Головна 
Наукові відділи Publications dep02 dep-02-2018 Simulation of X - Ray Diffraction Spectra for AlN/GaN Multiple Quantum Well Structures on AlN(0001) with Interface Roughness and Variation of Vertical L ayers Thickness
Наукові відділи Publications dep02 dep-02-2018 Simulation of X - Ray Diffraction Spectra for AlN/GaN Multiple Quantum Well Structures on AlN(0001) with Interface Roughness and Variation of Vertical L ayers Thickness