 |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України
|
Розробки Publications dep02 dep-02-before X-ray diffraction characterization of microdefects in silicon crystals after high-energy electron irradiationV.B. Molodkin, S.I. Olikhovskii, E.G. Len, B.V. Sheludchenko, S.V. Lizunova, Ye.M. Kyslovs’kyy, T.P. Vladimirova, E.V. Kochelab, O.V. Reshetnyk, V.V. Dovganyuk, І.М. Fodchuk, T.V. Lytvynchuk, V.P. Kladko and Z. Świątek // Physica Status Solidi (А), V.208, Issue 11. P.2552-2557 (2011).
