Влияние кулоновских дефектов и нестехиометрии в GaAs на энергетическую зависимость характеристик динамической брэгг-дифракции рентгеновских лучей

V. Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics of National Academy of Sciences of Ukraine

You are here: Home

В.П. Кладько, С.И. Олиховский, Л.И. Даценко. // Металлофизика и новейшие технологии, Т.22, №6. C.20-27, (2000).

Nav view search