Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України
Пошук
Навігаційний перегляд пошуку
Навігація
Головна
Інститут
Наукові відділи
Проекти
Розробки
Освіта
Новини
Журнал
Пошта
Ви тут:
Головна
Наукові відділи
Publications
dep07
dep-07-before
Visualisation of submicron Si-rods by SPR-enhanced total internal reflection microscopy
Логін
Пароль
Запам'ятати мене
Забули свій пароль?
Забули свій логін?
Деталі
Перегляди: 5201
Rengevych O.V., Beketov G.V., Ushenin Yu.V. // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. – 2014. - V17, №4. - Р.32-38