Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України

Пошук

Деталі
Перегляди: 8684

O. Yefanov // Journal of Applied Crystallography, Vol.41, Part 1. P.110-114, (2008). http://dx.doi.org/10.1107/S0021889807048765