Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України
Пошук
Навігаційний перегляд пошуку
Навігація
Головна
Інститут
Наукові відділи
Проекти
Розробки
Освіта
Новини
Журнал
Пошта
Ви тут:
Головна
Розробки
Publications
dep12
dep-12-2019
Simulation sensors sensitivity on based on surface plasmon resonance phenomenon with additional upper nanolayer of polytetrafluoroethylene
Прилади
Діагностика
Технологія
Послуги
Деталі
Перегляди: 4700
H.V. Dorozinska //
Оптоелектроніка та напівпровідникова техніка, Т.
54
, C.126-133 (2019)