Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України

Пошук

Деталі
Перегляди: 3483

A. Baidullaeva,A. I. Vlasenko, P. E. Mozol. //  Abstact of DRIP-9. Defect Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors. Sept. 24-28, 2001, Riminy, Italy.