- Деталі
- Перегляди: 8408
L. Borkovska, N. Korsunska, T. Stara, O. Gudymenko, Ye. Venger, O. Stroyuk, O. Raevska, T. Kryshtab // Applied Surface Science, V.281, P.118-122 (2013). http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2012.12.146
- Деталі
- Перегляди: 8419
A.V. Kuchuk, V.P. Kladko, P.M. Lytvyn, H.V. Stanchu, A. Wierzbicka, M. Sobancka, K. Klosek, Z.R. Zytkiewicz // Proceedings of the International Conference Nanomaterials 2013: Applications and Properties, V.2, No 4, 04NAESP21(4p). http://x-ray.net.ua/downloads/prints/papers/xray_380.pdf
- Деталі
- Перегляди: 8434
M.I. Klyui, V.P. Temchenko, O.P. Gryshkov, V.A. Dubok, V.P. Kladko, A.V. Kuchuk, V.M. Dzhagan, V.O. Yukhymchuk, V.S. Kiselov. // Functional materials, V.20, No2, P.163-171 (2013).
- Деталі
- Перегляди: 8662
A.E. Belyaev, V.A. Pilipenko, V.M. Anischik, T.V. Petlinskaya, A.V. Sachenko, V.P. Kladko, R.V. Konakova, N.S. Boltovets, і інші. // Semicoductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, V.16, N2, P.99-110 (2013). http://journal-spqeo.org.ua/n2_2013/v16n2-2013-p099-110.pdf
- Деталі
- Перегляди: 5932
I.M. Fodchuk, V.V. Dovganyuk, T.V. Litvinchuk, V.P. Kladko, M.V. Slobodian, O.Y. Gudymenko, Z. Swiantek. // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, V.13, N 2. P.209-213 (2010).
- Деталі
- Перегляди: 6732
A.P. Mancuso, Th. Gorniak, F. Staier, O. Yefanov, R. Barth, C. Christophis, B. Reime, (...), I.A. Vartanyants. // New Journal of Physics, 12, art. P.035003 (2010).
- Деталі
- Перегляди: 6452
В.В. Стрельчук, В.П. Кладько, К.А. Авраменко, А.Ф. Коломыс, Н.В. Сафрюк, Р.В. Конакова, Б.С. Явич, М.Я. Валах, В.Ф. Мачулин, А.Е. Беляев. // Физика и техника полупроводников, T.44. вып.9. C.1236-1247 (2010).
- Деталі
- Перегляди: 7160
В.В. Басанец, Н.С. Болтовец, А.В. Гуцул, А.В. Зоренко, В.Г. Ральченко, А.Е. Беляев, В.П. Кладько, Р.В. Конакова, Я.Я. Кудрик, А.В. Кучук, В.В. Миленин // Журнал Технической Физики, том 83, выпуск 3, C.113-117, (2013)
- Деталі
- Перегляди: 7033
Р.Л. Політанський, В.П. Кладько, М.І. Клюй // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика. Електроніка. Вип.112, С.48-50, (2001).
- Деталі
- Перегляди: 6433
В.П. Кладько, Т.Г. Крыштаб, Г.Н. Семенова, А.И. Свительский // Физика и Техника Полупроводников, Т.26, №11 С.1932-1937 (1992).
- Деталі
- Перегляди: 6010
В.П. Кладько, Т.Г. Крыштаб, Ю.Н. Клейнфельд, Г.Н. Семенова, Л.С. Хазан // Физика и Техника Полупроводников, Т.26, №2. С.368-372 (1992).
- Деталі
- Перегляди: 5693
Ф.Ф. Сизов, В.П. Кладько, Ю.М. Козирев, С.В. Пляцко. // Український Фізичний Журнал, Т.41, №9. С.845-849 (1996).
- Деталі
- Перегляди: 6332
В.П. Кладько // Український Фізичний Журнал, Т.42, №7. С.894-897 (1997).
- Деталі
- Перегляди: 5895
M.E.Seitmuratov, V.P. Kladko, O.I. Gudymenko, L.I. Datsenko, I.V. Prokopenko // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics. V. 5, N 3. P. 258-260, (2002).
- Деталі
- Перегляди: 6811
Л.И. Даценко, В.П. Кладько // Кристаллография, Т.45, №5, С.775-778, (2000).
- Деталі
- Перегляди: 6316
В.П. Кладько, С.В. Пляцко // Физика и техника полупроводников, Том 32, №3, с.261-263, (1998).
- Деталі
- Перегляди: 6876
А.Е. Беляев, Н.С. Болтовец, Е.Ф. Венгер, А.В. Волков, В.П. Кладько, Р.В. Конакова, Я.Я. Кудрик, В.В. Миленин, Г.В. Миленин, В.А. Пилипчук, Р.А. Редько, А.В. Саченко // Монографія. Харків: „ИСМА” – 384 C, (2011).
- Деталі
- Перегляди: 7079
В.П. Мельник, І.М. Хацевич, Ю.В. Голтвянський, В.В. Нікірін, Б.М. Романюк, В.Г. Попов, В.П. Кладькo, А.В. Кучук // Український Фізичний Журнал, 56, №6. С.535-541 (2011).
- Деталі
- Перегляди: 6924
В.Г. Литовченко, Б.М. Романюк, В.Г. Попов, В.П. Мельник, О.С. Оберемок, В.П. Кладько, І.П. Лісовський, В.В. Стрельчук, К.В. Шаповалов, В.В. Черненко // Металлофизика и новейшие технологии, T.33, No7, C.873-898 (2011).
- Деталі
- Перегляди: 7099
В.И. Пунегов, Д.В. Сивков, В.П. Кладько // Письма в ЖТФ, T.37, вып.8, С.41-48 (2011).
- Деталі
- Перегляди: 7083
А.Е. Беляев, В.В. Басанец, Н.С. Болтовец, А.В. Зоренко, Л.М. Капитанчук, В.П. Кладько, Р.В. Конакова, Н.В. Колесник, Т.В. Крицкая, Я.Я. Кудрик, А.В. Кучук, В.В. Миленин, А.Б. Атаубаева // Физика и Техника Полупроводников, Т.45, вып.2, С.256-252 (2011).
Більше статей...
- X-ray diffraction characterization of microdefects in silicon crystals after high-energy electron irradiation
- Mechanisms of oxygen precipitation in Cz-Si wafers subjected to rapid thermal anneals
- Influence of small miscuts on self-ordered growth of Ge nanoislands
- Diffuse X-Ray Scattering from Crystalline Systems with Ellipsoidal Quantum Dots