Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України

Пошук

Деталі
Перегляди: 7548
Stanchu H., Kladko V., Kuchuk A., Safriuk N., Belyaev A., Wierzbicka A., Sobanska M., Klosek K., Zytkiewicz Z.R. // Nanoscale Research Letters. – 2015, - V. 10,N2, - P.51-54 
Деталі
Перегляди: 7738
Strelchuk V.V., Nikolenko A.S., Stubrov Yu.Yu., Belyaev A.E., Gubanov V.O., Biliy M.M., Bulavin L.A. // Ukrainian Journal of Physics. – 2015, - V. 60, N9, - P.925-931 
Деталі
Перегляди: 7495
Gasparyan F., Zadorozhnyi I., Vitusevich S. // Journal of Applied Physics.-2015.-V.117.-N.17.-P.174506-1-5 
Деталі
Перегляди: 6649
Gubin A.I., Barannik A.A., Cherpak N.T., Protsenko I.A., Pud S., Vitusevich S., Offenhaeusser A. // IEEE Micorwave technique and Technology .-2015.-V. 63.-N.6.-P. 2003-2009 
Деталі
Перегляди: 6584
Саченко А.В., Беляев А.Е., Болтовец Н.С., Брунков П.Н., Жмерик В.Н., Иванов С.В., Капитанчук Л.М., Конакова Р.В., Кладько В.П., Романец П.Н., Сай П.О., Сафрюк Н.В., Шеремет В.Н. // ФТП. – 2015.- Т.49, №4. - С. 472 – 482 

Більше статей...

  1. Експериментальний доказ незмінності форми ізоенергетичних еліпсоїдів n–Ge в умовах сильної одновісної пружної деформації
  2. Depletion length in semiconductor nanostructures with spherical Symmetry
  3. Silicon Submicron Rods Imaging by Surface Plasmon Resonance
  4. Surface Plasmon Resonance Sensors: Methods of Surface Fictionalisation and Sensitivity Enhancement