Visualisation of submicron Si-rods by SPR-enhanced total internal reflection microscopy

Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України

Rengevych O.V., Beketov G.V., Ushenin Yu.V. // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. – 2014. - V17, №4. - Р.32-38

Навігаційний перегляд пошуку