- Details
- Hits: 10238
Г.С.Пекар, О.Ф.Сингаївський // Патент України на винахід № 81729, 25.01.2008.
- Details
- Hits: 11900
O.P. Dimitriev, A.F.Singaevsky, P.S. Smertenko, V.V. Kislyuk and A.A.Pud // Phys.Stat/Solidi A – 2009. - 1-7 /DOI 10 1002 / 200925143.
- Details
- Hits: 10286
С.М. Левицький, О.І. Власенко, П.О. Генцарь, О.С. Литвин, В.П. Папуша,
Ц.А. Криськов // Фізика і хімія твердого тіла – 2009. - Т.10, № 2. - С. 311-314.
- Details
- Hits: 9360
A.F.Singaevsky, M.Fahlman, P.S.Smertenko, O.P.Dimitriev, D.O.Grynko, V.V. Kislyuk, A.A.Pud // EOS Annual Meeting, 2010. 26-29 October, Paris, France, Vol.5 Organic Photonics, ISBN 978-3-00-030509-2.
- Details
- Hits: 9704
V.S. Khomchenko, V.I. Kushnirenko, V.P. Papusha, A.K. Savin, and O.S. Lytvyn // Semiconductors – 2010. - Vol. 44, No 5. - Р. 685 - 690.
- Details
- Hits: 9984
М.М.Локшин, Г.С.Пекар, О.Ф.Сингаївський // Патент України на винахід № 94562, 10.05.2011.
- Details
- Hits: 9903
М.М.Осипьонок, Г.С.Пекар, О.Ф.Сингаївський // Патент України на винахід № 94561, 10.05.2011.
- Details
- Hits: 8958
N. Lukyanchikova, N. Garbar, V. Kudina, A. Smolanka, E. Simoen, C. Claeys // Solid- State Electronics. – 2011. – V. 63, № 1.– P. 27–36.
- Details
- Hits: 9828
N. Lukyanchikova, N. Garbar, V. Kudina, A. Smolanka, E. Simoen, C. Claeys // Semiconductor-On-Insulator Materials for Nanoelectronics Applications. Engineering Materials. Ed. by A.Nazarov, J.-P.Colinge, F.Balestra, J.-P.Raskin, F.Gamiz, V.S.Lysenko. – Springer, 2011. – P. 287–306.
- Details
- Hits: 11888
A.F.Singaevsky, O.P.Dimitriev, D.O.Grynko, Y.P.Piryatinski // J.Applied Physics A- 2011. -Vol. 104, No.1.- P.493-502.
- Details
- Hits: 10070
N.Lukyanchikova, N.Garbar, V.Kudina, A.Smolanka, E.Simoen, C.Claeys // Book "Micro- and Nanoelectronics - 2012" (ICMNE-2012), 2012. - Moscow-Zvenigorod, Russia. - P. W2-O5.
- Details
- Hits: 10045
G.S.Pekar, A.F.Singaevsky // Applied Physics A – 2012. – Vol. 108, Issue 3. - P. 657- 664.(DOI: 10.1007/s00339-012-6947-x).
- Details
- Hits: 11367
N.Lukyanchikova, N.Garbar, V.Kudina, A.Smolanka, E.Simoen, C.Claeys // Microelectronics Reliability – 2013. – V. 53, № 3. – P. 394–399.