- Details
- Hits: 7933
O. Oberemok, V. Kladko, V. Litovchenko, B. Romanyuk, V. Popov, V. Melnik, A. Sarikov, O. Gudymenko and J. Vanhellemont // Semiconductor Science and Technology, V.29, No 5. P.055008 (2014).
- Details
- Hits: 7803
L. Borkovska, N. Korsunska, T. Stara, O. Gudymenko, V. Kladko, O. Stroyuk, A. Raevskaya, T. Kryshtab // Physica B: Condensed Matter, V.453, P.86-91 (2014). http://dx.doi.org/10.1016/j.physb.2014.03.098
- Details
- Hits: 6854
A.N. Nazarov, S.O. Gordienko, P.M. Lytvyn, A.A. Stadnik, Y.Y. Gomeniuk, A.V. Vasin, A.V. Rusavsky, (...), V.S. Lysenko // Advanced Materials Research, 2014, V.854, P.59-67 (2014).
- Details
- Hits: 6293
V.P. Kladko, A.V. Kuchuk, N.V. Safryuk, V.F. Machulin, A.E. Belyaev, R.V. Konakova, B.S. Yavich, B.Ya. Ber, and D.Yu. Kazantsev // Semiconductors, V.45, No.6, P.753–760 (2011).
- Details
- Hits: 6374
Paweł Borowicz, Adrian Kuchuk, Zbigniew Adamus, Michał Borysiewicz, Marek Ekielski, Eliana Kamińska, Anna Piotrowska, and Mariusz Latek // ISRN Nanomaterials, vol.2012, Article ID 852405, 11 pages (2012). doi:10.5402/2012/852405
- Details
- Hits: 6392
O.S. Oberemok, V.G. Lytovchenko, V.P. Melnyuk, O.Yo. Gudymenko // Proceedings of the International Conference Nanomaterials: Applications and properties, V.1 No 3, 03PCSI13(2p) (2012).
- Details
- Hits: 7159
В.П. Кладько, Т.Г. Крыштаб.// Український Фізичний Журнал, Т.34, №10. С.1574-1575 (1989).
- Details
- Hits: 7233
М.Я. Скороход, Л.И. Даценко, А.Н. Гуреев, А.С. Васильковский. // УФЖ. Т.15, №5, С.787-795 (1970).
- Details
- Hits: 7027
А.Н. Гуреев, В.П. Кладько, Л.И. Даценко, М.Я. Скороход // Український Фізичний Журнал, Т.31, №1, С.101-104 (1986).
- Details
- Hits: 7493
Е.Н. Кисловский, В.П. Кладько, А.В. Фомин, В.И. Хрупа // Заводская лаборатория, Т.51, №7, С.30-31 (1985).
- Details
- Hits: 6860
Мельничук И.В., Манакина А.Л., Кладько В.П.,, Королева Л.П., И.М.Раренко // Український Фізичний Журнал, Т.26, №4, С.615-618 (1981).
- Details
- Hits: 6001
Л.И. Даценко // УФЖ, Т.24, №5, С.577-590 (1979).
- Details
- Hits: 6440
В.П. Кладько, В.Ф. Мачулін, О.М. Єфанов, В.О. Юхимчук, О.Й. Гудименко, П.П. Когутюк, А.В. Шалімов // Український фізичний журнал, Т. 50, №9, C.976-980 (2005).
- Details
- Hits: 6146
А.А. Кончиц, Н.И. Клюй, С.П. Колесник, В.С. Ефанов, В.П. Кладько, В.Ю. Изотов, А.М. Данишевский, С.К. Гордеев // Наносистемы, наноматериалы, нанотехнологии, Т.3, Вип.1. C.83-90 (2005).
- Details
- Hits: 6265
E. Kaminska, A. Piotrowska, A. Szczesny,A. Kuchuk, R. Lukasiewicz, K. Golaszewska, R. Kruszka, A. Barcz, R. Jakiela, E. Dynowska, A. Stonert, A. Turos // Phys. Stat. Sol. (c), V.2, No3, P. 1060–1064 (2005).
- Details
- Hits: 5832
L. Borkovska, R. Beyer, O. Gudymenko, V. Kladko, N. Korsunska, T. Kryshtab, Yu. Sadofyev, Ye. Venger // Journal of Crystal Growth, 275, Issues 1-2. e2281-e2287 (2005).
- Details
- Hits: 6001
V.P. Klad’ko, P.M. Lytvyn, N.M. Osipyonok, G.S. Pekar, I.V. Prokopenko, A.F. Singaevsky // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, V.8, N 2. P. 61-65 (2005).
- Details
- Hits: 5815
V.P. Kladko, V.F. Machulin, O.M. Yefanov, V.A. Yukchimchuk, O.I. Gudymenko, P.P. Kogutyuk, A.V. Shalimov // Ukr. J. Phys. V. 50, No9, P.975-979 (2005).
- Details
- Hits: 5703
A.M. Yaremko, V.O. Yukhymchuk, M.Ya. Valakh, A.V. Novikov, V.P. Melnik, O.S. Lytvyn, D.N. Lobanov, Z.F. Krasil’nik, V.P. Kladko, V.M. Dzhagan // Materials Science and Engineering C V.25, P.565–569 (2005).
- Details
- Hits: 5998
A.V. Kuchuk, V.P. Kladko, V.F. Machulin, O.S. Lytvyn, А.А. Коrchovyi, A. Piotrowska, R.A. Minikayev, and R. Jakiela // Металлофизика и новейшие технологии. / Metallofiz. Noveishie Tekhnol. т. 27, №5, с. 625—634 (2005).
- Details
- Hits: 5948
M.Я. Валах, A.С. Николенко, В.В. Стрельчук, П.M. Литвин, В.П. Кладько, А.И. Гудыменко, Н.В. Слободян, З.Ф. Красильник, А.А. Новиков, Д.Н. Лобанов // Труды XV международного симпозиума «Нанофизика и наноэлектроника», Нижний Новгород, Т.2, С.430-431 (2011).
More Articles...
- Многообразность динамической картины рассеяния излучений монокристаллами с несколькими типами микродефектов
- Measurements of precision value of ohmic contact resistance to n-SiC by c-TLM method
- Formation of silicon nanoclusters in buried ultra-thin oxide layer
- Electron microscopy study of nickel-based ohmic contacts to silicon carbide